對(duì)轉(zhuǎn)子片成品的檢驗(yàn)主要是電性能的檢驗(yàn)。因?yàn)樗P(guān)系到整機(jī)的性能，所以一般廠家對(duì)于轉(zhuǎn)子片的電性能要求做到全檢。
    電阻方法簡(jiǎn)單，也是現(xiàn)在應(yīng)用較多的一種方法，只需要一臺(tái)微歐計(jì)就可以了。測(cè)試者測(cè)量轉(zhuǎn)子片上相應(yīng)不同位置的測(cè)量點(diǎn)，根據(jù)微歐計(jì)顯示的多組數(shù)據(jù)的一致性與設(shè)定值作比較．來判斷轉(zhuǎn)子片的電性能是否合格。這種方法的特點(diǎn)是簡(jiǎn)單，但相對(duì)來說不易操作。在測(cè)試過程中，
測(cè)試者要保持微歐計(jì)的四個(gè)觸點(diǎn)(一對(duì)電流觸點(diǎn)，一對(duì)電壓觸點(diǎn))同時(shí)分別接觸到被測(cè)轉(zhuǎn)子片相應(yīng)的兩個(gè)導(dǎo)條上，真空浸漆的轉(zhuǎn)子片較大、導(dǎo)條較寬，操作尚方便；若轉(zhuǎn)子片直徑較小、導(dǎo)條細(xì)、密，則很難用此方法測(cè)試。該方法只能檢測(cè)轉(zhuǎn)子片的通、斷和短路情況，而對(duì)轉(zhuǎn)子片的內(nèi)部的絕緣情況無法反映，并且檢驗(yàn)準(zhǔn)確率不高，效率低。